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TOFD2012版教材
主播:特种设备 播放:5.3万次最近更新: 2022-09-22
节目列表
正序 | 倒序
- 1072 缺陷尺寸与六章习题
- 2071 评定报告与几何显示
- 3070 透明裂纹与其他
- 4069 变型波与非平行缺陷
- 5068 埋藏缺陷与焊缝根部.mp3
- 6067 下表面缺陷与贯穿性缺陷的特征
- 7066 上表面缺陷特征
- 8065 缺陷的特征
- 9064 特殊工艺
- 10063 减少盲区影响的措施
- 11062 温度与耦合剂
- 12061 仪器校准与检测实施
- 13060 探头参数、PCS的选择
- 14059 扫查增量扫查方式与检测前准备
- 15058 手动与机械扫查
- 16057 衰减对增益的影响
- 17056 各种增益设置方法
- 18055 PCS的选择与增益设置
- 19054 扫查次数的选择
- 20053 晶片选择与小结
- 21052 探头频率的选择
- 22051 探头角度的选择
- 23050 分辨力
- 24049 深度总误差与长度误差
- 25048 其他误差
- 26047 耦合剂厚度变化引起误差
- 27046 探头间距引起的误差及校准的重要性
- 28045 TOFD测量误差及采样时间差
- 29044 TOFD测量方法和采样频率的影响
- 30043 TOFD检测精度与影响因素
- 31042 轴偏离底面盲区与公式的变换
- 32041 底面焊缝中心盲区
- 33040 近表面盲区
- 34039 TOFD试块的特点
- 35037 声束中各频率组分的分布
- 36038 宽带窄带与粗晶细晶
- 37036 探头的半扩散角
- 38035 TOFD探头时频特性
- 39034探头与压电晶片
- 40033 脉冲重复频率
- 41032脉冲宽度
- 42031电子电路带宽
- 43030TOFD性能指标
- 44029TOFD检测系统
- 45028 数字分析与SAFT
- 46027抛物线指针是怎么回事
- 47026差分的作用与原理
- 48025拉直的原理
- 49024标准图形与信号平均
- 50023灰度与振幅
- 51022A扫周期样本数等
- 52021波高电压与量化
- 53020滤波器
- 54019混叠
- 55018频谱与信号带宽
- 56017采样频率与采样定理
- 57016模拟信号与数字信号
- 58015TOFD的优点与局限性
- 59014盲区精度与可靠性
- 60013扫查方式
- 61012复习BCD扫描
- 62011TOFD显示是怎么来的
- 63011PCS确定与校准
- 64010深度与时间的双曲线关系
- 65009深度计算
- 66008相位关系
- 67007A扫信号有哪些
- 68006为什么用纵波
- 69005基本配置与探头
- 70004TOFD声场
- 71003裂纹对衍射的各种影响
- 72002衍射及折射角度对衍射的影响
- 73001开场白
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